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1復(fù)合材料檢測(cè)中的常用無(wú)損檢測(cè)手段

包括符合材料在內(nèi)的無(wú)損傷檢測(cè)手段，都存在一個(gè)前提，就是通過損傷檢測(cè)來(lái)鑒定問題出現(xiàn)的形式，然后在無(wú)損傷檢測(cè)中加以對(duì)比，從而確定缺陷瑕疵出現(xiàn)的位置、尺寸和數(shù)量等數(shù)據(jù)。目前常用的無(wú)損傷檢測(cè)方法有X射線（輻射法）、超聲波（聲學(xué)法）、CT（電磁法）、紅外成像、微波等方式，本文選擇三種有代表性的進(jìn)行討論。

1.1X射線無(wú)損檢測(cè)法X射線具有透視功能，在無(wú)損測(cè)試中通過膠片照相的方法來(lái)確定符合材料中的缺陷和瑕疵，例如復(fù)合材料中的提及缺陷、疏松、纖維斷裂等，這種檢測(cè)方式非常清晰靈敏，檢測(cè)所獲得的識(shí)別材料容易觀察。但同樣也存在缺陷，那就是檢測(cè)材料缺乏分層分析的能力，不易發(fā)現(xiàn)與射線垂直方向上的斷裂部分，如果需要檢測(cè)的復(fù)合材料十分龐大，整個(gè)過程也會(huì)顯得十分繁瑣。X射線無(wú)損檢測(cè)法在實(shí)際的工業(yè)運(yùn)用中，主要通過X射線發(fā)射器來(lái)完成，所以檢測(cè)的尺寸有限，主要應(yīng)對(duì)一些精密型儀器。隨著科學(xué)技術(shù)的發(fā)展以及學(xué)科之間的融合，現(xiàn)階段也出現(xiàn)了X光與CT相互配合形成的無(wú)損探傷設(shè)備，在檢測(cè)方式上取得了重要的改進(jìn)。

1.2超聲波無(wú)損檢測(cè)法超聲波無(wú)損檢測(cè)法所使用的原理，是針對(duì)復(fù)合材料本身存在的缺陷和瑕疵進(jìn)行報(bào)告。超聲波具有很高的靈敏度，在傳播中能夠發(fā)生衰減，復(fù)合材料中的分層、空隙、雜質(zhì)等都能夠提供不同的聲波信號(hào)。盡管超聲波無(wú)損檢測(cè)法的精確度很高，但是，它的缺點(diǎn)也同樣源于此處。精確度高是由于在檢測(cè)中，針對(duì)不同的材料使用了不同的探頭，在頻繁拆換的過程中，就降低了檢測(cè)的效率。隨著技術(shù)的發(fā)展，超聲波無(wú)損檢測(cè)也在自身的基礎(chǔ)上形成了新的工藝，產(chǎn)生了SWF應(yīng)力波因子檢測(cè)的方法。這種技術(shù)主要用于檢測(cè)符合材料中細(xì)微缺陷群體性結(jié)構(gòu)情況，適用于整體性要求嚴(yán)格的復(fù)合材料設(shè)備。如壓力液晶板，只要存在一個(gè)瑕疵或缺陷部分，就必須淘汰掉的情況。

1.3CT無(wú)損檢測(cè)法這里所指的CT是工業(yè)CT，即，計(jì)算機(jī)斷層掃描成像。CT無(wú)損檢測(cè)法具有的優(yōu)點(diǎn)是直觀、準(zhǔn)確、清晰和便捷，這種方式主要用于工業(yè)級(jí)的大型設(shè)備無(wú)損檢測(cè)。檢測(cè)的過程如下：首先通過掃描設(shè)備得到斷層投影，然后通過圖像重新建設(shè)和計(jì)算的方法模擬出斷層圖，進(jìn)而可以得到整個(gè)檢測(cè)對(duì)象的檢測(cè)數(shù)據(jù)。CT設(shè)備本身是很有限的檢測(cè)空間，但相對(duì)于X射線無(wú)損檢測(cè)法而言，要靈活的多，并且更加精確。目前國(guó)際上把CT無(wú)損檢測(cè)技術(shù)壘位最先進(jìn)的檢測(cè)手段，這無(wú)疑與計(jì)算機(jī)技術(shù)相結(jié)合有莫大的關(guān)系。通過計(jì)算機(jī)技術(shù)的功能，計(jì)算機(jī)層析照相技術(shù)可以還原內(nèi)部無(wú)法直接觀察到的，可以接觸簡(jiǎn)析符號(hào)，或者更直觀的3D成像技術(shù)來(lái)實(shí)現(xiàn)。

2結(jié)語(yǔ)

無(wú)損檢測(cè)技術(shù)和復(fù)合材料之間的關(guān)系是非常緊密的，兩者都屬于是先進(jìn)技術(shù)的代表，也都具有很強(qiáng)大的生命力和市場(chǎng)潛力。隨著計(jì)算機(jī)技術(shù)的發(fā)展，無(wú)損檢測(cè)技術(shù)的應(yīng)用范圍將會(huì)更加寬泛、更加精確，而復(fù)合材料同樣也在技術(shù)改進(jìn)，在應(yīng)用中對(duì)無(wú)損檢測(cè)技術(shù)的要求也會(huì)越來(lái)越多。兩者的發(fā)展是相輔相成的，互相倒逼技術(shù)進(jìn)步。但從未來(lái)的發(fā)展趨勢(shì)來(lái)看，計(jì)算機(jī)技術(shù)、紅外線技術(shù)和傳感器其技術(shù)將會(huì)有進(jìn)一步的發(fā)展。

作者：葉麗華 單位：內(nèi)蒙古大唐國(guó)際克什克騰煤制天然氣有限責(zé)任公司